Алгоритм поиска неисправности на структурном уровне

Неисправность АРМ (РМ-10), проявляющаяся в яркой засветке экрана ЭЛТ БИО, может быть обусловлена либо неисправностью БИО, либо ошибкой выдаваемых на БИО данных и, соответственно, неисправностью ЦВУ. Для определения места возникновения неисправности необходимо провести проверку БИВ. Так как БИВ для формирования изображения также использует информацию, поступающую от ЦВУ, то, в случае возникновения неисправности в ЦВУ, экран БИВ будет ярко засвечен. Если БИВ функционирует нормально, то можно сделать вывод о наличии неисправности в БИО.

Рисунок 1. Алгоритм поиска неисправности на структурном уровне.

Рисунок 2. Структурная схема РМ-10.

Интересное из раздела

Генератор цифровых тестовых сигналов
Ускорение научно-технического прогресса, развитие автоматизации процессов производства требует постоянного совершенствования систем сбора и переработки информации. Наибол ...

Преобразователь двоичного кода
Логические элементы (узлы) предназначены для выполнения различных логических (функциональных) операций над дискретными сигналами при двоичном коде их предст ...

Шагающий аппарат
Одной из важных разновидностей роботов являются шагающие роботы, предназначенные для перемещения по труднопроходимой местности. В отличие от к ...