Алгоритм поиска неисправности на структурном уровне

Неисправность АРМ (РМ-10), проявляющаяся в яркой засветке экрана ЭЛТ БИО, может быть обусловлена либо неисправностью БИО, либо ошибкой выдаваемых на БИО данных и, соответственно, неисправностью ЦВУ. Для определения места возникновения неисправности необходимо провести проверку БИВ. Так как БИВ для формирования изображения также использует информацию, поступающую от ЦВУ, то, в случае возникновения неисправности в ЦВУ, экран БИВ будет ярко засвечен. Если БИВ функционирует нормально, то можно сделать вывод о наличии неисправности в БИО.

Рисунок 1. Алгоритм поиска неисправности на структурном уровне.

Рисунок 2. Структурная схема РМ-10.

Интересное из раздела

Использование специализированных микропроцессоров
Рассмотрим преимущества цифровой обработки сигналов (ЦОС) на сравнении аналоговых и цифровых фильтров. Цифровые фильтры всё чаще находят своё применение в м ...

Проектирование генератора гармонических колебаний
Генераторы гармонических колебаний представляют собой электронные устройства, формирующие на своем выходе периодические гармонические колебания при отсутств ...

Расчет спектральных характеристик сигналов и каналов связи
На современном этапе развития перед железнодорожным транспортом стоят задачи по увеличению пропускной и провозной способности, грузовых и пассажирских перев ...