Алгоритм поиска неисправности на структурном уровне

Неисправность АРМ (РМ-10), проявляющаяся в яркой засветке экрана ЭЛТ БИО, может быть обусловлена либо неисправностью БИО, либо ошибкой выдаваемых на БИО данных и, соответственно, неисправностью ЦВУ. Для определения места возникновения неисправности необходимо провести проверку БИВ. Так как БИВ для формирования изображения также использует информацию, поступающую от ЦВУ, то, в случае возникновения неисправности в ЦВУ, экран БИВ будет ярко засвечен. Если БИВ функционирует нормально, то можно сделать вывод о наличии неисправности в БИО.

Рисунок 1. Алгоритм поиска неисправности на структурном уровне.

Рисунок 2. Структурная схема РМ-10.

Интересное из раздела

Повышение технологичности печатного узла усилителя на ОУ
Целью данного курсового проекта является повышение технологичности печатного узла усилителя на ОУ за счет применения прогрессивных методов монтажа SMD-к ...

Двухканальный усилитель низкой частоты 2х22Вт
Предлагаемый усилитель обладает малыми габаритами и широким диапазоном питающих напряжений. УНЧ воспроизводит частоты 45 Гц…20 кГц при коэффициенте нелинейн ...

Расчет усилителя постоянного тока
электромагнитная головка тип - ГЗМ-105 Диапазон частот - 31,5 - 18 кГц Величина выходного напряжения (на НЧ) - 0,7 мВ Величина выходног ...