Алгоритм поиска неисправности на структурном уровне

Неисправность АРМ (РМ-10), проявляющаяся в яркой засветке экрана ЭЛТ БИО, может быть обусловлена либо неисправностью БИО, либо ошибкой выдаваемых на БИО данных и, соответственно, неисправностью ЦВУ. Для определения места возникновения неисправности необходимо провести проверку БИВ. Так как БИВ для формирования изображения также использует информацию, поступающую от ЦВУ, то, в случае возникновения неисправности в ЦВУ, экран БИВ будет ярко засвечен. Если БИВ функционирует нормально, то можно сделать вывод о наличии неисправности в БИО.

Рисунок 1. Алгоритм поиска неисправности на структурном уровне.

Рисунок 2. Структурная схема РМ-10.

Интересное из раздела

Калибровка мониторов на основе науки о цвете – колориметрии
Полиграфическая индустрия активно развивается и предлагает клиентам все больше новых и интересных решений. Также растет требовательность заказчиков к резуль ...

Проектирование зеркальных антенн для индивидуального приема спутниковых программ
Наибольший интерес в настоящее время представляет прием телевидения в диапазоне 11…12 ГГц, для которого наиболее применимы параболические антенны, так как п ...

История появления полупроводниковых интегральных схем
сентября 1958 года сотрудник фирмы Texas Instruments (TI) Джек Килби продемонстрировал руководству три странных прибора - склеенные пчелиным воском на стеклянно ...