Интенсивность отказов микросхем

Не рассчитывается в данной работе.

Здесь и ниже, в качестве НЕ расчетных(справочных) λ будем принимать значение интенсивности отказа резистора =0,04*10-6 ,ч-1 [5]

.2 Интенсивность отказов аппаратуры

Интенсивность отказов субблоков j-го типа определяется по формуле

, (36)

где - интенсивность отказов схем широкого применения;

- интенсивность отказов микросборок;

- интенсивность отказов паяного контакта.

Количество выводов микросборки определяется по формуле

К1-коэффициент разветвленности = 4 [в соответствии с рекомендацией]

. (37)

Для J=128

Для J=512

Интенсивность отказов субблоков

1) Для J =128

а) конструкция книжная

=

=6,8*10-5 ,ч-1

б) конструкция кассетная

6,8*10-5 ,ч-1

в) конструкция разъемная

6,8*10-5 ,ч-1

2) Для J =512:

а) конструкция книжная

=

=7.1*10-5 ,ч-1

б) конструкция кассетная

7.1*10-5 ,ч-1

в) конструкция разъемная

7.1*10-5 ,ч-1

Количество внешних выводов разъема кассеты в устройстве управления определяется по формуле

. (38)

1) Для J=128

2) Для J=512

Количества внешних выводов разъема кассеты в устройстве ввода-вывода определяется по формуле

. (39)

1) Для J=128

2) Для J=512

Количество внешних выводов разъема кассеты в арифметическом устройстве определяется по формуле

. (40)

1) Для J=128

=557

2) Для J=512

Интенсивность отказов кассеты устройства управления определяется по формуле

, (41)

Интересное из раздела

Расчет многослойных просветляющих и отражающих покрытий
Для заданной марки оптического материала произвести расчёт однослойного, двухслойного, трёхслойного и многослойного просветляющего покрытия с мин ...

Автоматическая система управления
В настоящее время широко используются микропроцессорные устройства и системы. Их назначение и область применения очень велика. Так, различного рода микропроцессорные сист ...

Усилитель низкой частоты для наушников
За последние 100 лет, значительные изменения во многих областях науки и техники обусловлены быстрым развитием электроники. На сегодняшний день невозможно на ...