Задача 1
На испытании поставлено N0 = 1600 образцов неремонтируемой аппаратуры число отказов фиксировалось через каждые 100 часов работы.
Требуется вычислить количественные характеристики надежности невосстанавливаемых надежности и построить зависимости характеристик от времени.
Решение
1. Вычислим вероятность безотказной работы, которая оценивается выражением:
,
где - число изделий в начале испытания;
- число отказавших изделий за время
.
. Вычислим частоту отказов:
,
где - число отказавших изделий в интервале времени от
до
.
. Вычислим интенсивность отказов :
,
где - среднее число исправных работающих изделий в интервале
.
. Вычисляем вероятность отказов q*(t):
q*(t)=1-p*(t)
q*(100)=1- p*(100)=1-0,966=0,034
q*(200)=1- p*(200)=1-0,934=0,066
. Вычислим среднее время безотказной работы по ниже приведенному выражению, так как испытания были прекращены до отказа всех элементов:
,
где - время окончания испытаний;
- число элементов, отказавших за время
.
Результаты вычисления ,
,
,
q(t) заносим в таблицу
∆ti |
n(∆ti) |
P*(t) |
q*(t) |
N(cpi) |
λ*(ti)*10(-3), 1/ч |
f*(ti)*10^(-3), 1/ч |
0-100 |
55 |
0,966 |
0,034 |
1572,5 |
0,350 |
0,344 |
100-200 |
50 |
0,934 |
0,066 |
1520,0 |
0,329 |
0,313 |
200-300 |
44 |
0,907 |
0,093 |
1473,0 |
0,299 |
0,275 |
300-400 |
41 |
0,881 |
0,119 |
1430,5 |
0,287 |
0,256 |
400-500 |
33 |
0,861 |
0,139 |
1393,5 |
0,237 |
0,206 |
500-600 |
32 |
0,841 |
0,159 |
1361,0 |
0,235 |
0,200 |
600-700 |
28 |
0,823 |
0,177 |
1331,0 |
0,210 |
0,175 |
700-800 |
23 |
0,809 |
0,191 |
1305,5 |
0,176 |
0,144 |
800-900 |
20 |
0,796 |
0,204 |
1284,0 |
0,156 |
0,125 |
900-1000 |
19 |
0,784 |
0,216 |
1264,5 |
0,150 |
0,119 |
1000-1100 |
19 |
0,773 |
0,228 |
1245,5 |
0,153 |
0,119 |
1100-1200 |
18 |
0,761 |
0,239 |
1227,0 |
0,147 |
0,113 |
1200-1300 |
19 |
0,749 |
0,251 |
1208,5 |
0,157 |
0,119 |
1300-1400 |
18 |
0,738 |
0,262 |
1190,0 |
0,151 |
0,113 |
1400-1500 |
19 |
0,726 |
0,274 |
1171,5 |
0,162 |
0,119 |
1500-1600 |
17 |
0,716 |
0,284 |
1153,5 |
0,147 |
0,106 |
1600-1700 |
16 |
0,706 |
0,294 |
1137,0 |
0,141 |
0,100 |
1700-1800 |
18 |
0,694 |
0,306 |
1120,0 |
0,161 |
0,113 |
1800-1900 |
17 |
0,684 |
0,316 |
1102,5 |
0,154 |
0,106 |
1900-2000 |
19 |
0,672 |
0,328 |
1084,5 |
0,175 |
0,119 |
Анализ и синтез линейной системы автоматического управления
Анализ
системы автоматического управления
Исходные
данные:
Рассмотрим
структурную схему III
изображенную в табл. П-1.1.
Параметры
...
Электроника
Электроника. Методические указания для лабораторных работ. Составители:
Е.М.Фискин, М.М.Фискина. -Иркутск: Изд-во ИрГТУ, 2012.-25 с.
Содержатся мате ...
Устройство оперативной памяти статического типа емкостью 12 Кб для микропроцессора Intel 8080
Одним
из ведущих направлений развития современной микроэлектронной элементной базы
являются большие интегральные микросхемы памяти, которые служат основой д ...